ZYGO ZeGage Pro核心技術淺析
要有效運用ZYGO 3D光學輪廓儀ZeGage Pro，對其核心測量技術——白光垂直掃描干涉法的理解是基礎。這項技術將光學、精密機械和數字信號處理相結合，以實現表面三維形貌的非接觸測量。
白光干涉現象是該技術的物理基礎。設備使用寬帶白光作為光源，其光波包含多種波長。當這束光被分束器分為參考光束和測量光束，并分別從參考鏡和樣品表面反射回來重新組合時，會發生干涉。由于白光各波長成分的相干性短，只有在兩束光的光程差非常接近零時，所有波長的干涉光才會同相位增強，產生一個明顯的干涉信號峰值（即白光干涉條紋的零級條紋）。這個峰值的位置對于確定表面高度至關重要。
為了獲取整個表面的高度信息，系統需要進行垂直方向的精密掃描。這是通過高精度的位移驅動器（如壓電陶瓷促動器）來移動干涉物鏡或樣品臺實現的。在掃描過程中，相機以ji 高的縱向采樣密度，連續捕獲一系列整個視場的干涉圖像。對于圖像中的每一個像素點，其對應的樣品表面點在掃描過程中，當光程差為零時，該像素記錄的光強會達到一個局部最大值。系統軟件通過特定的算法（如包絡檢測算法或相移分析算法）處理每個像素的光強變化序列，精確地找出這個最大值所對應的掃描位置（Z軸坐標）。
將所有像素點計算出的高度值與其X、Y坐標結合，便構成了一個完整的數字高程矩陣，即樣品表面的三維形貌數字化表達。軟件可以將其渲染為偽彩色三維圖像，直觀展示表面的起伏和紋理。
該技術路徑帶來了幾個特點。首先是“非接觸"，測量過程不與樣品發生物理接觸，因此不會劃傷或使柔軟樣品變形。其次是“全場測量"，不同于逐點掃描的探針式輪廓儀，它可以一次性獲取整個視場內所有點的數據，測量速度相對較快。再者，它具有“高垂直分辨率"，理論上可以達到亞納米級別，對測量超光滑表面和納米級臺階高度較為有效。
然而，技術的應用也存在一些條件。樣品的表面需要能夠反射足夠強度的光以形成清晰的干涉信號。對于反射率極低（如黑絨布）或wan 全透明的樣品，可能需要通過噴鍍一層薄金屬膜來增強表面反射。此外，測量非常粗糙或傾角過大的表面時，可能會因為光線散射嚴重或信號丟失而導致數據不完整。環境振動和空氣流動也可能對高精度的干涉測量產生干擾，因此設備通常需要放置在相對穩定的環境中。
ZeGage Pro的實現還依賴于穩定的機械結構以減少外部振動，精密的掃描機構以保證Z軸移動的直線性和重復性，以及高效、魯棒的數據處理算法來從干涉信號中準確提取高度信息。
理解白光垂直掃描干涉技術的原理、優勢及其局限性，有助于操作者根據不同的樣品特性合理設置測量參數，選擇合適的數據處理方法，并對最終測量結果的可靠性和適用范圍做出恰當的判斷，從而更有效地利用ZYGO ZeGage Pro完成表面計量任務。
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